Slit-Lamp Microscope

WO2009051052 Art A1 23. April 2009

Anmelder: Kabushiki Kaisha TOPCON 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009051052
Aktenzeichen: EP08840396
Anmeldetag: 9. Oktober 2008
Veröffentlichung: 23. April 2009
Rechtsraum: WO
IPC: A61B3/12

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Kabushiki Kaisha TOPCON
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

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Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit

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