Scanning optical measurement apparatus having super resolution

WO2009054576 Art A1 30. April 2009

Anmelder: Industry-Academic Cooperation Foundation, Yonsei University 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2009054576
Aktenzeichen
EP08722993
Anmeldetag
18. Februar 2008
Veröffentlichung
30. April 2009
Rechtsraum
WO
IPC
G01N13/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Industry-Academic Cooperation Foundation, Yonsei University
Land
🇰🇷 Südkorea
🇰🇷 Industry-Academic Cooperation Foundation, Yonsei University

Technologietransfer- und Patentverwertungsstelle der Yonsei University in Südkorea, verwaltet Erfindungen aus der universitären Forschung.

913 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen