Built in Self Test For Input/output Characterization

WO2009059172 Art A2 7. Mai 2009

Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009059172
Aktenzeichen: EP08843865
Anmeldetag: 31. Oktober 2008
Veröffentlichung: 7. Mai 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G06F11/22G06F13/14G06F11/30G06F9/30

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Texas Instruments Incorporated
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Texas Instruments

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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