Self Checking Performance Measurement Methodology

WO2009060345 Art A1 14. Mai 2009

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009060345
Aktenzeichen: EP08846351
Anmeldetag: 29. Oktober 2008
Veröffentlichung: 14. Mai 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G06F17/50

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NXP B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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