A method and apparatus for generating a test plan using a statistical test approach
WO2009061985
Art A1
14. Mai 2009
Anmelder: Raytheon Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2009061985
- Aktenzeichen
- EP08848288
- Anmeldetag
- 7. November 2008
- Veröffentlichung
- 14. Mai 2009
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06F7/60
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Raytheon Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Raytheon Company
US-amerikanisches Rüstungs- und Technologieunternehmen mit Sitz in Massachusetts, heute Teil von RTX Corporation. Entwickelt Verteidigungssysteme, Radartechnik, Flugabwehr, Sensorik und Luftfahrtelektronik.
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