Synchronizing circuit, synchronizing method and test device using them
WO2009066356
Art A1
28. Mai 2009
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2009066356
- Aktenzeichen
- EP07828063
- Anmeldetag
- 21. November 2007
- Veröffentlichung
- 28. Mai 2009
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H03L7/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
610 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.