Scan probe microscope and probe unit for scan probe microscope
WO2009066555
Art A1
28. Mai 2009
Anmelder: Hitachi, Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2009066555
- Aktenzeichen
- EP08852171
- Anmeldetag
- 31. Oktober 2008
- Veröffentlichung
- 28. Mai 2009
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N13/10G01N13/16
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi, Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi
Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.
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