Aberration measuring method and its device

WO2009066599 Art A1 28. Mai 2009

Anmelder: Tokyo Institute of Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009066599
Aktenzeichen: EP08853010
Anmeldetag: 6. November 2008
Veröffentlichung: 28. Mai 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01M11/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Tokyo Institute of Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Tokyo Institute of Technology

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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