Mems based probe card and a method of testing semiconductor ion sensor using the same

WO2009066979 Art A2 28. Mai 2009

Anmelder: Mimos Berhad 🇲🇾

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009066979
Aktenzeichen: EP08851934
Anmeldetag: 20. November 2008
Veröffentlichung: 28. Mai 2009
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66B81B7/00

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Firma: Mimos Berhad
Land: 🇲🇾 Malaysia

🇲🇾 Mimos Berhad

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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