Method and device of material identification

WO2009070977 Art A1 11. Juni 2009

Anmelder: Nuctech Company Limited, Tsinghua University 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2009070977
Aktenzeichen
EP08857105
Anmeldetag
14. November 2008
Veröffentlichung
11. Juni 2009
Rechtsraum
WO
IPC
G01N23/02G01N23/04
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Nuctech Company Limited
Tsinghua University
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Nuctech

Chinesisches Unternehmen mit Sitz in Peking, spezialisiert auf Sicherheitsscanner und Inspektionssysteme für Flughäfen, Häfen und Grenzübergänge.

814 Patente in unserer Datenbank

🇨🇳 Tsinghua University

Chinesische Universität mit Sitz in Peking, eine der führenden Forschungshochschulen des Landes. Aktiv in Ingenieurwissenschaften, Informatik, Materialwissenschaften und Naturwissenschaften sowie in zahlreichen technischen Anwendungsfeldern.

1.696 Patente in unserer Datenbank

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