Delay circuit, multi-stage delay circuit, time digital converter using them, semiconductor test device, ring oscillator, and delay lock loop circuit
WO2009072268
Art A1
11. Juni 2009
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2009072268
- Aktenzeichen
- EP08857675
- Anmeldetag
- 2. Dezember 2008
- Veröffentlichung
- 11. Juni 2009
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H03K5/13H03K3/03H03K3/354
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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