Apparatus and method for testing image sensor wafers to identify pixel defects

WO2009073417 Art A1 11. Juni 2009

Anmelder: OmniVision Technologies, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009073417
Aktenzeichen: EP08856850
Anmeldetag: 21. November 2008
Veröffentlichung: 11. Juni 2009
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: OmniVision Technologies, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 OmniVision Technologies

OmniVision Technologies ist ein US-amerikanischer Hersteller von Bildsensoren für Kameras und mobile Geräte. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Nachrichtentechnik und Halbleiterbauelemente, insbesondere CMOS-Bildsensortechnologie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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