Measuring method, inspecting method, measuring apparatus and inspecting apparatus

WO2009075330 Art A1 18. Juni 2009

Anmelder: Omron Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009075330
Aktenzeichen: EP08860595
Anmeldetag: 11. Dezember 2008
Veröffentlichung: 18. Juni 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/00G01B11/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Omron Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Omron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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