Systems and methods for improving measurement of light transmittance through ink deposited on a substrate

WO2009076248 Art A1 18. Juni 2009

Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009076248
Aktenzeichen: EP08860145
Anmeldetag: 6. Dezember 2008
Veröffentlichung: 18. Juni 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G02F1/1335G02F1/13B41J2/01

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Applied Materials, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Applied Materials

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik

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