Methods and apparatus for measuring deposited ink in pixel wells on a substrate using a line scan camera

WO2009076249 Art A2 18. Juni 2009

Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009076249
Aktenzeichen: EP08860334
Anmeldetag: 6. Dezember 2008
Veröffentlichung: 18. Juni 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G02F1/13G02F1/133G01N21/88

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Applied Materials, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Applied Materials

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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