Semiconductor test apparatus

WO2009084108 Art A1 9. Juli 2009

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2009084108
Aktenzeichen
EP07860514
Anmeldetag
28. Dezember 2007
Veröffentlichung
9. Juli 2009
Rechtsraum
WO
IPC
G01R31/3183H03K5/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Advantest Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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