Test pattern generating method, device, and program

WO2009087769 Art A1 16. Juli 2009

Anmelder: Fujitsu Limited 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009087769
Aktenzeichen: EP08710543
Anmeldetag: 10. Januar 2008
Veröffentlichung: 16. Juli 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Fujitsu Limited
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujitsu

Japanisches Unternehmen für Informationstechnik, das Computer, Server, Netzwerktechnik sowie IT-Dienstleistungen und Softwarelösungen entwickelt und anbietet.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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