Memory testing device and testing method

WO2009093281 Art A1 30. Juli 2009

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009093281
Aktenzeichen: EP08702804
Anmeldetag: 22. Januar 2008
Veröffentlichung: 30. Juli 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G11C29/56G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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