Microscope and aberration correction controlling device

WO2009096522 Art A1 6. August 2009

Anmelder: Nikon Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009096522
Aktenzeichen: EP09705075
Anmeldetag: 30. Januar 2009
Veröffentlichung: 6. August 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G02B21/00G02B21/06G02B21/18G02B21/28G02B21/30

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Nikon Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Nikon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.

3.320 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Optik & Fototechnik

Vertreten von