Plane parameter estimating device, plane parameter estimating method, and plane parameter estimating program

WO2009099117 Art A1 13. August 2009

Anmelder: Tokyo Institute of Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009099117
Aktenzeichen: EP09707851
Anmeldetag: 29. Januar 2009
Veröffentlichung: 13. August 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/245G01B11/00G01B11/26G03B35/00G06T1/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Tokyo Institute of Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Tokyo Institute of Technology

Japanische technische Universität in Tokio mit Schwerpunkt auf Natur- und Ingenieurwissenschaften. Seit 2024 firmiert sie im Zuge einer Fusion als Institute of Science Tokyo.

739 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung

Vertreten von