Tip type probe manufacturing method, tip type probe, and tip type probe manufacturing apparatus

WO2009104625 Art A1 27. August 2009

Anmelder: Seiko Instruments Inc. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009104625
Aktenzeichen: EP09712857
Anmeldetag: 18. Februar 2009
Veröffentlichung: 27. August 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01N13/14G01N13/10G11B5/02G11B5/31

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Seiko Instruments Inc.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Seiko Instruments

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Chiba, tätig in den Bereichen Präzisionsinstrumente, Uhren und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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