Method of transferring a thin layer onto a support substrate
WO2009106177
Art A1
3. September 2009
Anmelder: S.O.I.Tec Silicon on Insulator Technologies, Commissariat A L'Energie Atomique C.E.A. 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2009106177
- Aktenzeichen
- EP08872796
- Anmeldetag
- 5. Dezember 2008
- Veröffentlichung
- 3. September 2009
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/762
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- S.O.I.Tec Silicon on Insulator Technologies
Commissariat A L'Energie Atomique C.E.A. - Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇫🇷
S.O.I.Tec Silicon on Insulator Technologies
S.O.I.Tec Silicon on Insulator Technologies war ein französischer Hersteller von Silizium-auf-Isolator-Wafern für die Halbleiterindustrie, das heutige Unternehmen firmiert als Soitec. Der Patentbestand konzentriert sich fast ausschließlich auf Halbleiterbauelemente und Waferbondverfahren.
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