A sensor device with improved sensitivity to temperature variation in a semiconductor substrate

WO2009106533 Art A1 3. September 2009

Anmelder: Analog Devices, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009106533
Aktenzeichen: EP09715850
Anmeldetag: 25. Februar 2009
Veröffentlichung: 3. September 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01J5/24

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Analog Devices, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇮🇪 Analog Devices

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit irischer Konzerngesellschaft. Analog Devices entwickelt analoge, gemischte und digitale Signalverarbeitungschips für Industrie-, Kommunikations- und Automobilanwendungen.

1.727 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von