Control apparatus, aligning apparatus, control method and measuring apparatus
WO2009110599
Art A1
11. September 2009
Anmelder: National University Corporation Yokohama National University, Nikon Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2009110599
- Aktenzeichen
- EP09718049
- Anmeldetag
- 6. März 2009
- Veröffentlichung
- 11. September 2009
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G05D3/12G01M13/02G05B13/02G05D17/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- National University Corporation Yokohama National University
Nikon Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
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