Test device, demodulation device, test method, demodulation method, and electronic device

WO2009116238 Art A1 24. September 2009

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009116238
Aktenzeichen: EP09722685
Anmeldetag: 4. März 2009
Veröffentlichung: 24. September 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/319H04L27/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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