Inspection measuring system and inspection measuring method
WO2009116345
Art A1
24. September 2009
Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2009116345
- Aktenzeichen
- EP09722052
- Anmeldetag
- 18. Februar 2009
- Veröffentlichung
- 24. September 2009
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06Q50/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.
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