Socket guide, socket unit, electronic component test apparatus, and method of controlling socket temperature

WO2009118855 Art A1 1. Oktober 2009

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009118855
Aktenzeichen: EP08738993
Anmeldetag: 27. März 2008
Veröffentlichung: 1. Oktober 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/26H01R33/76

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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