Integrated circuit with test arrangement, integrated circuit arrangement and text method

WO2009122315 Art A1 8. Oktober 2009

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009122315
Aktenzeichen: EP09729144
Anmeldetag: 19. März 2009
Veröffentlichung: 8. Oktober 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/317G01R31/319G01R31/3185

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NXP B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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