X-ray inspection device
WO2009122665
Art A1
8. Oktober 2009
Anmelder: Ishida Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2009122665
- Aktenzeichen
- EP09728247
- Anmeldetag
- 18. März 2009
- Veröffentlichung
- 8. Oktober 2009
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/04G01T1/24G01T7/00G21K5/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Ishida Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Ishida
Japanisches Unternehmen für Wäge- und Verpackungstechnik mit Sitz in Kyoto. Ishida entwickelt Waagen, Verpackungsmaschinen und Inspektionssysteme für die Lebensmittelindustrie.
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Vertreten von
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