Test device and test method

WO2009122700 Art A1 8. Oktober 2009

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009122700
Aktenzeichen: EP09728234
Anmeldetag: 27. März 2009
Veröffentlichung: 8. Oktober 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3183G06F11/22

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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