Driver circuit and testing apparatus

WO2009125491 Art A1 15. Oktober 2009

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009125491
Aktenzeichen: EP08740271
Anmeldetag: 11. April 2008
Veröffentlichung: 15. Oktober 2009
Rechtsraum: WO
IPC: H03K19/00G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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