Loop type clock adjustment circuit and test device
WO2009125580
Art A1
15. Oktober 2009
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2009125580
- Aktenzeichen
- EP09731416
- Anmeldetag
- 7. April 2009
- Veröffentlichung
- 15. Oktober 2009
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H03L7/081H03L7/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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