Method for detecting electrical inhomogeneities caused by local defects in a conductive layer and corresponding apparatus

WO2009129864 Art A1 29. Oktober 2009

Anmelder: AGC Glass Europe 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009129864
Aktenzeichen: EP08736592
Anmeldetag: 25. April 2008
Veröffentlichung: 29. Oktober 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/309G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: AGC Glass Europe
Land: 🇧🇪 Belgien

🇯🇵 AGC (Asahi Glass)

Japanischer Glas- und Chemiekonzern mit Sitz in Tokio, früher als Asahi Glass Company firmierend. AGC entwickelt Flachglas, elektronische Materialien, Spezialchemikalien sowie Glasprodukte für Automobil-, Bau- und Elektronikindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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