Test system and probe apparatus

WO2009130793 Art A1 29. Oktober 2009

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009130793
Aktenzeichen: EP08752177
Anmeldetag: 25. April 2008
Veröffentlichung: 29. Oktober 2009
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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