Semiconductor detector and imaging apparatus for radiation measuring

WO2009135349 Art A1 12. November 2009

Anmelder: Nuctech Company Limited, Tsinghua University 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009135349
Aktenzeichen: EP08874159
Anmeldetag: 24. Dezember 2008
Veröffentlichung: 12. November 2009
Rechtsraum: WO
IPC: H01L27/14H01L31/00G01T1/24H05G1/64

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Nuctech Company Limited
Tsinghua University
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Nuctech

Chinesisches Unternehmen mit Sitz in Peking, spezialisiert auf Sicherheitsscanner und Inspektionssysteme für Flughäfen, Häfen und Grenzübergänge.

814 Patente in unserer Datenbank

🇨🇳 Tsinghua University

Chinesische Universität mit Sitz in Peking, eine der führenden Forschungshochschulen des Landes. Aktiv in Ingenieurwissenschaften, Informatik, Materialwissenschaften und Naturwissenschaften sowie in zahlreichen technischen Anwendungsfeldern.

1.696 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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