Method and device for inspecting object with a forward direction scatter radiation

WO2009135376 Art A1 12. November 2009

Anmelder: Tsinghua University, Nuctech Company Limited 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009135376
Aktenzeichen: EP09741651
Anmeldetag: 16. Februar 2009
Veröffentlichung: 12. November 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/08G01N23/083

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Tsinghua University
Nuctech Company Limited
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Tsinghua University

Chinesische Universität mit Sitz in Peking, eine der führenden Forschungshochschulen des Landes. Aktiv in Ingenieurwissenschaften, Informatik, Materialwissenschaften und Naturwissenschaften sowie in zahlreichen technischen Anwendungsfeldern.

1.696 Patente in unserer Datenbank

🇨🇳 Nuctech

Chinesisches Unternehmen mit Sitz in Peking, spezialisiert auf Sicherheitsscanner und Inspektionssysteme für Flughäfen, Häfen und Grenzübergänge.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von