Digital modulated signal test equipment, and digital modulator, moudlating method and semiconductor device using the same

WO2009136427 Art A1 12. November 2009

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009136427
Aktenzeichen: EP08751697
Anmeldetag: 9. Mai 2008
Veröffentlichung: 12. November 2009
Rechtsraum: WO
IPC: H04L27/00G01R29/06G01R31/319

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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