Semiconductor device and method for validating a state thereof

WO2009144531 Art A1 3. Dezember 2009

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009144531
Aktenzeichen: EP08763124
Anmeldetag: 27. Mai 2008
Veröffentlichung: 3. Dezember 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G06F11/22G06F11/10

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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