Semiconductor device with dummy gate electrode and corresponding integrated circuit and manufacturing method

WO2009144641 Art A1 3. Dezember 2009

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2009144641
Aktenzeichen
EP09754267
Anmeldetag
20. Mai 2009
Veröffentlichung
3. Dezember 2009
Rechtsraum
WO
IPC
H01L29/78H01L29/40H01L21/336
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

7.918 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen