Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen einer Optischen Eigenschaft eines Optischen Systems

WO2009146855 Art A1 10. Dezember 2009

Anmelder: Carl Zeiss SMT AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2009146855
Aktenzeichen
EP09757238
Anmeldetag
29. Mai 2009
Veröffentlichung
10. Dezember 2009
Rechtsraum
WO
IPC
G01M11/02G03F7/20
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Carl Zeiss SMT AG
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Carl Zeiss SMT

Deutsches Unternehmen der Carl Zeiss Gruppe mit Sitz in Oberkochen, das optische Systeme und Lithographieoptiken für die Halbleiterindustrie entwickelt.

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