Liquid crystal array inspection apparatus and method for correcting imaging range
WO2009147707
Art A1
10. Dezember 2009
Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2009147707
- Aktenzeichen
- EP08777084
- Anmeldetag
- 2. Juni 2008
- Veröffentlichung
- 10. Dezember 2009
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Shimadzu Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Shimadzu
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.
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