Probe wafer, probe apparatus, and test system

WO2009147717 Art A1 10. Dezember 2009

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009147717
Aktenzeichen: EP08764981
Anmeldetag: 2. Juni 2008
Veröffentlichung: 10. Dezember 2009
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66G01R1/073G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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