Electronic apparatus testing device and electronic apparatus testing method

WO2009147728 Art A1 10. Dezember 2009

Anmelder: Nippon Light Metal Company, Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009147728
Aktenzeichen: EP08765031
Anmeldetag: 3. Juni 2008
Veröffentlichung: 10. Dezember 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Nippon Light Metal Company, Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Nippon Light Metal

Nippon Light Metal ist ein japanischer Hersteller von Aluminiumprodukten. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Werkzeug-, Fertigungs- und Drucktechnik sowie Metallurgie und Oberflächentechnik, ergänzt um Halbleiterbauelemente. Anmeldungen sind seit 2000 dokumentiert.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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