Probe, electronic component testing device, and probe manufacturing method

WO2009147929 Art A1 10. Dezember 2009

Anmelder: Advantest Corporation, Panasonic Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009147929
Aktenzeichen: EP09758196
Anmeldetag: 12. Mai 2009
Veröffentlichung: 10. Dezember 2009
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66G01R1/073

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Advantest Corporation
Panasonic Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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