Method for manufacturing a semiconductor device, and a semiconductor device

WO2009153909 Art A1 23. Dezember 2009

Anmelder: Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2009153909
Aktenzeichen
EP09766357
Anmeldetag
20. April 2009
Veröffentlichung
23. Dezember 2009
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/762H01L21/02H01L21/336H01L21/76H01L21/8234H01L21/8249H01L27/06H01L27/08H01L27/088H01L27/12H01L29/739H01L29/78H01L29/786
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Shin-Etsu Handotai Co., Ltd.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Shin-Etsu Handotai

Japanisches Unternehmen der Shin-Etsu-Gruppe, das Siliziumwafer für die Halbleiterindustrie herstellt.

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