Memory malfunction prediction system and method

WO2009155123 Art A2 23. Dezember 2009

Anmelder: Micron Technology, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009155123
Aktenzeichen: EP09767434
Anmeldetag: 1. Juni 2009
Veröffentlichung: 23. Dezember 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G06F12/16G06F11/08G06F12/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Micron Technology, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Micron Technology

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Boise, Idaho. Micron entwickelt und fertigt Speicherchips wie DRAM und NAND-Flash sowie Speicherlösungen für Computer, Mobilgeräte, Rechenzentren und Automobile.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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