Prober for inspecting liquid crystal substrate

WO2009157074 Art A1 30. Dezember 2009

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2009157074
Aktenzeichen
EP08790631
Anmeldetag
26. Juni 2008
Veröffentlichung
30. Dezember 2009
Rechtsraum
WO
IPC
G01R31/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Shimadzu Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

2.214 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen