X-ray inspection apparatus

WO2009157121 Art A1 30. Dezember 2009

Anmelder: Ishida Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009157121
Aktenzeichen: EP09769831
Anmeldetag: 21. April 2009
Veröffentlichung: 30. Dezember 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/04

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Ishida Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Ishida

Japanisches Unternehmen für Wäge- und Verpackungstechnik mit Sitz in Kyoto. Ishida entwickelt Waagen, Verpackungsmaschinen und Inspektionssysteme für die Lebensmittelindustrie.

646 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von