Test interposer having active circuit component and method therefor

WO2009158057 Art A1 30. Dezember 2009

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009158057
Aktenzeichen: EP09770592
Anmeldetag: 6. April 2009
Veröffentlichung: 30. Dezember 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3183G01R31/26H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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