Forming ultra low dielectric constant porous dielectric films and structures formed thereby

WO2009158236 Art A2 30. Dezember 2009

Anmelder: Intel Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2009158236
Aktenzeichen
EP09770770
Anmeldetag
16. Juni 2009
Veröffentlichung
30. Dezember 2009
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/31H01L21/205
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Intel Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Intel

US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.

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